статистика причин отказов импульсных источников питания

В своей статье доктор Рэй Ридли приводит анализ наиболее распространённых причин выходов из строя импульсных источников питания, построенный на результатах опроса более чем 3000 инженеров-разработчиков импульсных источников питания.

В соответствии с приведённой статистикой чаще всего причиной отказа импульсных источников питания становятся силовые полупроводники. Следующей по популярности неисправностью является выход из строя конденсаторов, далее идут моточные компоненты, отказы печатной платы или механических компонентов и только после этого идут отказы микросхем управления.

В свою очередь, причиной выхода из строя силовых полупроводников в 67% случаев является несоблюдение требований даташитов - превышение максимально допустимых электрических (37%) или тепловых (30%) характеристик.

Ещё одной причиной выхода полупроводников из строя может быть их эксплуатация в режимах, не противоречащих требованиям даташита, но реально аварийных и губительных для этих приборов. К такой ситуации приводит недостоверное или недостаточно полное описание их зарактеристик в даташите, например, недостаточная детализация характеристик паразитного диода в полевом транзисторе.

В число прочих причин отказов полупроводниковых силовых приборов входит серьёзная проблема попадания контрафактных компонентов в серийные источники питания. Известны случаи, когда несколько первых электронных компонентов, заправленных в ленту на катушке для автоматического монтажа были легальными, а остальные - поддельными.

В завершении анализа доктор Ридли выражает уверенность в необходимости обмена опытом между разработчиками импульсных источников питания и надеется на повышение квалификации инженеров-разработчиков и эффективности и надёжности разрабатываемой ими продукции.